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宇时UM-4DL高精度彩屏带A扫超声波测厚仪

简要描述:宇时UM-4DL高精度彩屏带A扫超声波测厚仪
以数字功能为基础,采用过0测量功能,厚度测量值不受回波强度、材料衰减系数、增益和闸门高度的影响,具有较高测量稳定性和准确性。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-12-17
  • 访  问  量:354

宇时UM-4DL高精度彩屏带A扫超声波测厚仪

以数字功能为基础,采用过0测量功能,厚度测量值不受回波强度、材料衰减系数、增益和闸门高度的影响,具有较高测量稳定性和准确性。

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  • 技术参数

显示屏2.4寸QVGA(320×240点阵)彩色OLED屏,对比度10000:1
工作原理使用双晶探头的超声波脉冲/回波法
测量范围0.6至508毫米(0.025至20.00英寸)取决于所用探头、材料、表面状况
测量分辨率0.01或0.1mm(0.001或0.01in),可在整个测量范围内选择
单位毫米或英寸
增益高、中、低三档可调
显示模式厚度值模式,小/值捕获模式,差值/减薄率模式
V路径修正自动V声程修正,补偿双晶探头的非线性度
测量更新率每秒4Hz、8Hz、16Hz可选
材料声速范围500~9999m/s,0.0197~0.3937in/us
报警设置值和小值报警,报警时动态改变厚度读数颜色
工作语言中文、英文、日文、法文等多种语言可选择
电源两节1.5V AA电池
操作时间两节AA电池,使用时间大于35小时
仪器关机可选5、10、20分钟无操作后自动关机,或只能手动关机
工作温度-10℃~+50℃,有特殊要求可达-20℃
尺寸153mm×76mm×37

重量

含电池280g

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