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EC-770S 0-2000um镀层薄膜涂层测厚仪

简要描述:EC-770S 0-2000um镀层薄膜涂层测厚仪
0-2000um量程/精度0.1/误差2%+1um/32位ARM双核高速处理器/高精双用探头/中文操作界面/点阵液晶屏幕带背光/简单易用

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-12-20
  • 访  问  量:245

0-2000um量程/精度0.1/误差2%+1um/32位ARM双核高速处理器/高精双用探头/中文操作界面/点阵液晶屏幕带背光/简单易用

2017重磅上市第三代全新升级10余项技术革新之作10年行业积淀

高精双用探头

易用的数据存储、回放、统计、计算机下载采用128*128高分辨率点阵液晶

简单、易用、全中文菜单界面

采用双核处理架构,32位ARM处理器,显著提升运算效率拥有全自动校准算法,省去人工反复校准

适合恶劣条件使用

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高精双用探头

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采用双核处理架构,32位ARM处理器,显著提升运算效率拥有全自动校准算法,省去人工反复校准

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