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CY-D50 X射线探伤配件黑白密度计

简要描述:CY-D50 X射线探伤配件黑白密度计
CY-D50数显式黑白密度计是我司为射线检测研制的一散数显式黑白密度计,用于测量胶片的黑度值,可测黑度范围0. 00~5.00。本仪器是基于分析入射光和透射光的差值的原理来测量黑度,入射光为高亮度的LED稳定光源,入射光通过测量孔透过胶片,光电传感器接收光信号,并将光信号转变成电信号,通过单片机计算处理,将被测量底片的黑度伯显示在显示屏上。

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  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-12-20
  • 访  问  量:239

CY-D50数显式黑白密度计是我司为射线检测研制的一散数显式黑白密度计,用于测量胶片的黑度值,可测黑度范围0. 00~5.00。本仪器是基于分析入射光和透射光的差值的原理来测量黑度,入射光为高亮度的LED稳定光源,入射光通过测量孔透过胶片,光电传感器接收光信号,并将光信号转变成电信号,通过单片机计算处理,将被测量底片的黑度伯显示在显示屏上。
本产品设计轻巧,制作精良,单片机控制,具有操作简单、测量精度高、数据重复性好的特点。
制作精良。操作简单.测量精度高
测量范围:D=0.00-5.00
稳定性:±0.02
不确定性:0.00-3. 00D 0.04D 3.00-5.00D 0.05D
光孔尺寸:2mm
采样时间:0.5S
仪器重量:3.7kg
仪器尺寸:300*260*150mm
电源:220V±10% 50-60HZ
功率:15W
工作环境:0-40℃


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